Комплекс предназначен для изучения оптических характеристик поверхности и тонких слоев в вакууме в широком интервале температур и изучения кинетики температурно-индуцированных процессов

Предназначен для исследования многослойных структур, состоящих из полупроводниковых, диэлектрических и металлических слоев в произвольном сочетании; измерения спектров оптических постоянных полупроводников, диэлектриков, металлов и других материалов; характеризации структурных и композиционных свойств материалов; исследования свойств поверхности.