Комплекс оборудования для сканирующей зондовой микроскопии
Приборный парк ЦКП «ВТАН» НГУ
-
Производитель: Hecus, Австрия, 2007 г.Рентгеновский малоугловой дифрактометр Hecus «S3-MICRO»Позволяет измерять интенсивность рентгеновского рассеяния от исследуемых твердых и жидких образцов в виде пленок, пластин, покрытий, порошков, растворов, золей и гелей в области от самых малых углов до 8°.
Фотографии образцов
- Порошки
- Вязкие жидкости
- Золи
- Компактные материалы
-
Основные измеряемые характеристики
- Материал анода рентгеновской трубкимедь
- Максимальное напряжение50 кВ
- Максимальный ток1 мА
- Детектор для регистрации дифракционных картин
- Диапазон измеренияОт 0.01 до 0.6 Å
- Регистрация характеристики объекта в заданном диапазоне величины параметра — 3000 руб/образец
- Подготовка образца для проведения измерений или технологической операции — 1000 руб/образец
- Обработка данных с подготовкой аналитического отчёта — 4000 руб/образец
Дифрактометр работает в геометрии “на просвет”, твердые образцы исследуются в специальной кювете с полимерными стенками, жидкие образцы в специальных капиллярах. Для ряда процессов возможно исследование в in-situ режиме.
- Разработаны методики селективного анализа наночастиц в образцах типа “наночастицы в матрице”. Методики были применены для анализа нанесенных катализаторов, нанокомпозитов типа белок-полимер, природных материалов (рисовая шелуха, уголь, торф и др.)
- Изучена динамика процессов агрегации асфальтенов в тяжелых нефтях.
- Наличие наблюдаемых в АСМ структур подтверждаются данными ранее проведённой просвечивающей электронной микроскопии», пленка AlN растет в виде вертикально ориентированных шестигранников, в результате чего на поверхность кристаллиты выходят в виде дендритовидных структур.
- Установлены механизмы агрегации наночастиц в различных золях.
- Изучена структура и упорядоченность мезопористых упорядоченных материалов типа SBA-15.
- Исследовано структурное изменение материалов типа Nafion при контакте с различными типами жидких сред.
Оператор
- Ларичев Юрий ВасильевичКандидат химических наукНаучный сотрудник
