Приборный парк ЦКП ВТАН НГУ
Комплекс оборудования для сканирующей зондовой микроскопии
Атомно-силовой микроскоп BRUKER «Dimension Icon» для габаритных образцов с дополнительными модулями (Bruker Corp., США)
Производитель: BRUKER, Германия
Год: 2018
Производитель: BRUKER, Германия
Год: 2018
Назначение:
Визуализации рельефа поверхности образцов на нано- и субнанометровом уровне, исследований образцов в жидких средах, а также проведение анализа механических, электрических, пьезоэлектрических измерений и зарядовой литографии.
Фотографии образцов
Диапазон измерения характеристик, показатели точности: Максимальный размер образца — диаметр до 210 мм высота до 50 мм.
Максимальный размер поля сканирования XY до 90 мкм, с перепадами по высоте на поверхности Z до 10 мкм.
Визуализация микро- и нанорельефа поверхности образца с шумом не более 0.035 нм.
Разрешение вертикальное Z — <0.5 нм, латеральное XY — определяется остротой зонда (достижимо <1 нм).
Проведение анализа механических упругих характеристик с помощью методики картирования модуля Юнга PeakForce QNM (диапазон анализируемых значений от 1 МПа до 60 ГПа).
Внешнее подаваемое напряжение — от -10 В до 10 В. (В режиме KPFM-HV от -220 В до 220 В.)
Максимальный размер поля сканирования XY до 90 мкм, с перепадами по высоте на поверхности Z до 10 мкм.
Визуализация микро- и нанорельефа поверхности образца с шумом не более 0.035 нм.
Разрешение вертикальное Z — <0.5 нм, латеральное XY — определяется остротой зонда (достижимо <1 нм).
Проведение анализа механических упругих характеристик с помощью методики картирования модуля Юнга PeakForce QNM (диапазон анализируемых значений от 1 МПа до 60 ГПа).
Внешнее подаваемое напряжение — от -10 В до 10 В. (В режиме KPFM-HV от -220 В до 220 В.)
Получение изображения поверхности образца(контактным, либо резонансным полуконтактным методом, либо нерезонансным полуконтактным методом), 1800 руб/час
Изучение свойств образца продвинутыми методиками с применением Application modules, 2500 руб/образец
Подготовка образца для проведения измерений или технологической операции, 300 руб/образец
Консультационные услуги по научно-техническим, технологическим и экономическим проблемам, обработка/анализ данных методики АСМ, 900 руб/час
Изучение свойств образца продвинутыми методиками с применением Application modules, 2500 руб/образец
Подготовка образца для проведения измерений или технологической операции, 300 руб/образец
Консультационные услуги по научно-техническим, технологическим и экономическим проблемам, обработка/анализ данных методики АСМ, 900 руб/час
В сферах материаловедения, биологии, медицины (нейрохирургии), авиации, микроэлектроники (запоминающие среды и накопители запоминающих устройств, микро- и наноструктуры)
Диапазон токов в режиме PeakForce TUNA — от -550 нА до 550 нА, минимальный шаг порядка 70 фА.
Наличие режима ёмкостной микроскопии (SCM), магнито-силовой микросокпии (MFM), однопроходной микроскопии поверхностного электрического потенциала (single-pass KPFM), контактного резонанса (Contact Resonance).
- Исследована морфология БНЦ используемой в качестве имплантатов для закрытия дефектов твердой мозговой оболочки при патологии спинного мозга. Данный материал является перспективным для применения в нейрохирургии.
- «Анализ полученных изображений 1%-го Хизоля позволил выявить глобулярные структуры, равномерно распределённые по поверхности образца, со средним диаметром глобул порядка 20 нм, что соответствует размеру мелких вирусов, например, таких как (Caliciviridae, Picornaviridae, Parvoviridae).
- Наличие наблюдаемых в АСМ структур подтверждаются данными ранее проведённой просвечивающей электронной микроскопии», пленка AlN растет в виде вертикально ориентированных шестигранников, в результате чего на поверхность кристаллиты выходят в виде дендритовидных структур.
- Проанализированные кривые PSD-x позволили установить, что материал подложки не оказывает существенного влияния на гладкость поверхности пленок AlN.
Полезная документация и ссылки для научной и исследовательской работы
Статьи и публикации:
Информация об операторах
Заявка
Заранее благодарим Вас за сотрудничество!
Контакты
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Новосибирский национальный исследовательский государственный университет» (Новосибирский государственный университет, НГУ)
Место нахождения: 630090, Новосибирская область, г. Новосибирск, ул. Пирогова, 2
Почтовый адрес: 630090, г. Новосибирск, ул. Пирогова, 1
ИНН 5408106490, КПП 540801001
Место нахождения: 630090, Новосибирская область, г. Новосибирск, ул. Пирогова, 2
Почтовый адрес: 630090, г. Новосибирск, ул. Пирогова, 1
ИНН 5408106490, КПП 540801001
