Производитель: ООО «НТ-МДТ», Россия
Год: 2008Измерение трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением.
Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): позволяет исследовать топографию поверхности образцов с высоким разрешением около 1 нм
Атомная энергетика, электроника, исследовательское оборудование. Исследование твердотельных органических и биологических наноструктурированных материалов, объектов и систем. Проведение исследований с помощью наносклерометрического модуля. Проведение измерений с помощью СЗМ в вакууме. Проведение измерений в магнитном поле. АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная). Латерально-силовая микроскопия. Отображение фазы. Модуляция силы. Отображение адгезионных сил, МСМ, ЭСМ, Сканирующая емкостная микроскопия. Метод зонда Кельвина. Отображение сопротивления растекания. Литография АСМ.
Полезная документация и ссылки для научной и исследовательской работы
Статьи и публикации:
Заранее благодарим Вас за сотрудничество!