Производитель: Omicron Nanotechnology GmbH, Германия
Год: 2008Позволяет в сверхвысоковакуумных условиях получать атомное изображение поверхности металлов и полупроводников, в том числе кремния, посредством регистрации туннельного тока между зондом и близко подведенной к нему исследуемой поверхности. Предназначен для исследования элементарных структурных процессов на поверхности полупроводников и металлов для создания наносистем и новых материалов с уникальными свойствами.
Атомная энергетика, электроника, исследовательское оборудование. Исследование твердотельных органических и биологических наноструктурированных материалов, объектов и систем. Проведение исследований с помощью наносклерометрического модуля. Проведение измерений с помощью СЗМ в вакууме. Проведение измерений в магнитном поле. АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная). Латерально-силовая микроскопия. Отображение фазы. Модуляция силы. Отображение адгезионных сил, МСМ, ЭСМ, Сканирующая емкостная микроскопия. Метод зонда Кельвина. Отображение сопротивления растекания. Литография АСМ.
Полезная документация и ссылки для научной и исследовательской работы
Статьи и публикации:
Заранее благодарим Вас за сотрудничество!