Комплекс оборудования для сканирующей зондовой микроскопии
Приборный парк ЦКП «ВТАН» НГУ
-
Производитель: Omicron Nanotechnology GmbH, Германия, 2008 г.Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп Scienta Omicron «VTSTM»Позволяет в сверхвысоковакуумных условиях получать атомное изображение поверхности металлов и полупроводников, в том числе кремния, посредством регистрации туннельного тока между зондом и близко подведенной к нему исследуемой поверхности. Предназначен для исследования элементарных структурных процессов на поверхности полупроводников и металлов для создания наносистем и новых материалов с уникальными свойствами.
Фотографии образцов
Основные измеряемые характеристики
- Разрешающая способностьОпределяется разрешающей способностью иглы и соответствует размеру отдельного атома в латеральных направлениях и до 0,01 нм в вертикальном направлении.
- Остаточное давление в камере10-11 Торр.
- Возможность нагрева образцовдо 1500°С.
- Дополнительная система позиционированияПозволяет проводить сканирование поверхности непосредственно после эпитаксии или сублимации.
- ДополнительноМикроскоп оборудован ячейками напуска кислорода и системой эпитаксиального напыления на поверхность кремния или германия.
- Получение изображения поверхности образца (контактным, либо резонансным полуконтактным методом, либо нерезонансным полуконтактным методом) — 1800 руб/час
- Изучение свойств образца продвинутыми методиками с применением Application modules — 2500 руб/образец
- Подготовка образца для проведения измерений или технологической операции — 300 руб/образец
- Консультационные услуги по научно-техническим, технологическим и экономическим проблемам, обработка/анализ данных методики АСМ — 900 руб/час
В сферах материаловедения, биологии, медицины (нейрохирургии), авиации, микроэлектроники (запоминающие среды и накопители запоминающих устройств, микро- и наноструктуры)
- Атомная энергетика, электроника, исследовательское оборудование.
- Исследование твердотельных органических и биологических наноструктурированных материалов, объектов и систем.
- Проведение исследований с помощью наносклерометрического модуля.
- Проведение измерений с помощью СЗМ в вакууме.
- Проведение измерений в магнитном поле.
- АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная).
- Латерально-силовая микроскопия.
- Отображение фазы.
- Модуляция силы.
- Отображение адгезионных сил, МСМ, ЭСМ, cканирующая емкостная микроскопия.
- Метод зонда Кельвина.
- Отображение сопротивления растекания.
- Литография АСМ.
- Топография, отображение фазы, атомная энергетика, электроника, исследовательское оборудование.
- Исследование твердотельных органических и биологических наноструктурированных материалов, объектов и систем.
- Проведение исследований с помощью наносклерометрического модуля.
Полезная документация и ссылки
Операторы микроскопа
- Шкляев Александр АндреевичДоктор физико-математических наукВедущий научный сотрудник
- Уткин Дмитрий ЕвгеньевичМладший научный сотрудник
