Комплекс оборудования для ренгтеновской дифрактометрии
Приборный парк ЦКП «ВТАН» НГУ
-
Производитель: Thermo Fisher Scientific, Швейцария, 2009 г.Рентгеновский порошковый дифрактометр Thermo Fisher Scientific «ARLX’TRA»Определение фазового состава пробы, количественное определение известных фаз в смеси, кристаллографический анализ, анализ тонких плёнок.
Фотографии образцов
Основные измеряемые характеристики
- Материал анода рентгеновской трубкиСu (λ = 1.5418 Å)
максимальное напряжение 50кВ
максимальный ток 55мА - Внутренний фонниже 0,1 имп/сек.
- Линейная скоростьдо 50 000 имп/сек.
- Угловой диапазонот 0 до +160 градусов
- Относительное СКО выходного сигналане более 1,0 %
- Минимально допустимый угловой шаг0,00025 градусов
Прибор ARL X'TRA сконструирован по принципу вертикальной геометрии Брэгга-Брентано, обеспечивающей более удобную работу с пробами. Оптимальные параметры углового и энергетического разрешения без участия фильтров и монохроматоров достигаются благодаря уникальной технологии детекторов Пелтье. Данное решение увеличивает интенсивность дифракции и улучшает разрешение X'TRA, по сравнению с традиционными детекторами.
В зависимости от типа анализа или вида пробы, система легко реконфигурируется, используя такие специально подобранные принадлежности, как температурные камеры, опции формирования параллельного пучка, текстурный гониометр.
- Регистрация дифрактограмм порошковых неорганических соединений — 800 руб/образец
- Регистрация дифрактограмм материалов в виде тонкихплёнок и покрытий (при достаточной толщине слоя) — 1000 руб/образец
- Качественный рентгенофазовый анализ порошковых смесей неорганических соединений (до 5-6 фаз) — 1200 руб/образец или дифрактограмма
- Количественный рентгенофазовый анализ смесейнеорганических соединений (при наличии информации обих кристаллической структуре) методом полнопрофильного анализа — 3000 руб/образец или дифрактограмма
- Оценка параметров структуры и микроструктуры фазы вобразце (параметры ячейки, размеры областейкогерентного рассеяния) — 1500 руб/образец или дифрактограмма
- Сложный анализ тонкоплёночных материалов (анализтекстуры, рефлектометрия, послойный анализ и т.д.) — 6000 руб/образец или дифрактограмма
- Подготовка пробы образца для проведения измерений — 500 руб/образец
- Консультационные услуги по научно-техническим,технологическим и экономическим проблемам — 900 руб/час
- Фундаментальны исследования: кристаллография, химия твердного тела, твердотельная кинетика.
- Прикладные исследования: материаловедение, геология, авиация, исследования керамики.
- Контроль технологических процессов: цементная отрасль, металлургия, керамическая промышленность.
- Регистрация дифрактограммы порошковых и тонкоплёночных материалов в симметричной геометрии «на отражение» Брэгга-Брентано;
- Регистрация дифрактограммы тонких плёнок в ассиметричной геометрии под малым углом падения пучка рентгеновского излучения (при установке зеркала Гебеля);
- Регистрация кривых качания тонких плёнок (при установке зеркала Гебеля и гониометрической приставки);
- Регистрация полюсных фигур текстурированных материалов (при установке гониометрической приставки и точечного коллиматора).
- Проведено «ex situ» исследование генезиса фазового состава майенита при прокаливании его гидроксидных прекурсоров.
- Определена структура и фазовый состав майенита в его электридном состоянии.
- Охарактеризована структура перовскитов La1-xCaxMn1-yCoyO3 до и после термообработки («ex situ») в различных газовых (в т.ч. реакционной) средах.
- Проведено исследование фазового состава тонких плёнок алюминия и нитрида алюминия, полученных при вариации режимов напыления плёнок.
- Kapishnikov A. V. et al. Mayenite Synthesis from Hydroxide Precursors: Structure Formation and Active Sites on Its Surface //Materials. – 2022. – Т. 15. – №. 3. – С. 778.
- Kapishnikov A. V. et al. Structural stability of perovskite La0.5Ca0.5Mn0.5Co0.5O3±δ in the media with different partial pressures of oxygen //Journal of Structural Chemistry. – 2021. – Т. 62. – №. 5. – С. 762-770.
- Nikolaev I. V. et al. The Influence of Argon Cluster Ion Bombardment on the Characteristics of AlN Films on Glass-Ceramics and Si Substrates //Nanomaterials. – 2022. – Т. 12. – №. 4. – С. 670
Полезная документация и ссылки
Оператор
- Капишников Александр ВладимировичМладший научный сотрудник
