Microtech Instruments Inc., США
Диапазон 280-5000 мкм. Используется для измерения спектральных характеристик металлических и псевдометаллических структур; исследований диэлектрических свойств материалов; тестирования спектральных характеристик квазиоптических частотно-избирательных поверхностей; получения амплитудных и фазовых спектров пропускания и отражения.