Приборный парк

ЦКП «ВТАН» НГУ

+7 383 363 44 25

Оформить заявку

Приборный парк ЦКП «ВТАН» НГУ

Cканирующая зондовая микроскопия

Атомно-силовой микроскоп Bruker «Dimension Icon»
Сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT «SolverNext»
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп Scienta Omicron «VTSTM»
Ренгтеновская дифрактометрия

Рентгеновский порошковый дифрактометр Thermo Fisher Scientific «ARLX’TRA»
Растровая электронная микроскопия

Просвечивающий электронный микроскоп Zeiss «Libra120»
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Jeol «JEM-2200FSCS»
Просвечивающая электронная микроскопия

Растровый электронный микроскоп Jeol «JCM-5700 Carry Scope»
Электронный литограф-электронный микроскоп Raith «Pioneer»
Спектрометрия

Спектрометр комбинационного рассеяния света Horiba Jobin Yvon «T64000»
ИК-Фурье спектрометр Симекс «ФТ-801»
Эллипсометрия

Спектральный эллипсометр (диапазон 0.25-1 мкм) «Катакон»
Сканирующий лазерный эллипсометр «Катакон»
Терагерцовая спектроскопия

Квазиоптический субтерагерцовый ЛОВ-спектрометр Microtech Instruments Inc.
Измеритель мощности ТГц излучения SLT Gmbh
Монохроматический источник излучения 140 ГГц Terasense Group Inc.
Прочее оборудование

Установка для слаботочных измерений вольт-амперных характеристик Keithley
Инфракрасная печь для высокотемпературного отжига образцов Ulvac-RIKO «MILA-5000»
Автоматизированный микроскоп-интерферометр ЛОМО «МИИ-4М-USB»