Комплекс оборудования для сканирующей зондовой микроскопии
Приборный парк ЦКП «ВТАН» НГУ
-
Производитель: Bruker Corp., Германия, 2018 г.Атомно-силовой микроскоп Bruker «Dimension Icon»Визуализация рельефа поверхности образцов на нано- и субнанометровом уровне, исследований образцов в жидких средах, а также проведение анализа механических, электрических, пьезоэлектрических измерений и зарядовой литографии.
Фотографии образцов
Основные измеряемые характеристики
- Максимальный размер образцаДиаметр до 210 мм
Высота до 50 мм. - Максимальный размер поля сканированияXY до 90 мкм, с перепадами
по высоте на поверхности Z
до 10 мкм. - Визуализация микро-
и нанорельефа поверхностис шумом не более 0.035 нм. - РазрешениеВертикальное Z — <0.5 нм, Латеральное XY — определяется остротой зонда (достижимо <1 нм)
- Проведение анализа механических упругих характеристикДиапазон анализируемых значений от 1 МПа до 60 ГПа (с помощью методики картирования модуля Юнга PeakForce QNM)
- Внешнее подаваемое напряжениеОт -10 В до 10 В
(В режиме KPFM-HV
от -220 В до 220 В.)
- Получение изображения поверхности образца (контактным, либо резонансным полуконтактным методом, либо нерезонансным полуконтактным методом) — 1800 руб/час
- Изучение свойств образца продвинутыми методиками с применением Application modules — 2500 руб/образец
- Подготовка образца для проведения измерений или технологической операции — 300 руб/образец
- Консультационные услуги по научно-техническим, технологическим и экономическим проблемам, обработка/анализ данных методики АСМ — 900 руб/час
В сферах материаловедения, биологии, медицины (нейрохирургии), авиации, микроэлектроники (запоминающие среды и накопители запоминающих устройств, микро- и наноструктуры)
Диапазон токов в режиме PeakForce TUNA — от -550 нА до 550 нА, минимальный шаг порядка 70 фА.
Наличие режима ёмкостной микроскопии (SCM), магнито-силовой микросокпии (MFM), однопроходной микроскопии поверхностного электрического потенциала (single-pass KPFM), контактного резонанса (Contact Resonance).
- Исследована морфология БНЦ используемой в качестве имплантатов для закрытия дефектов твердой мозговой оболочки при патологии спинного мозга. Данный материал является перспективным для применения в нейрохирургии.
- «Анализ полученных изображений 1%-го Хизоля позволил выявить глобулярные структуры, равномерно распределённые по поверхности образца, со средним диаметром глобул порядка 20 нм, что соответствует размеру мелких вирусов, например, таких как (Caliciviridae, Picornaviridae, Parvoviridae).
- Наличие наблюдаемых в АСМ структур подтверждаются данными ранее проведённой просвечивающей электронной микроскопии», пленка AlN растет в виде вертикально ориентированных шестигранников, в результате чего на поверхность кристаллиты выходят в виде дендритовидных структур.
- Проанализированные кривые PSD-x позволили установить, что материал подложки не оказывает существенного влияния на гладкость поверхности пленок AlN.
Оператор микроскопа
- Гейдт Павел ВикторовичКандидат физико-математических наук D.Sc. (Tech.)Заведующий лабораторией ФДНС,
эксперт по продвинутым методикам АСМ.
