Заявка
Оборудование для спектрометрии
Приборный парк ЦКП «ВТАН» НГУ
  • ЛОМО «МСФУ»,Россия
    Спектрофотометр
    (диапазон 0.4-1.1 мкм)
    Предназначен для исследования элементарных структурных процессов на поверхности полупроводников и металлов для создания наносистем и новых материалов с уникальными свойствами.
Основные измеряемые характеристики
  • Увеличение микроскопа
    50 – 1000 крат.
  • Спектральный диапазон регистрации
    зеркального отражения
    350 – 900 нм
    диффузного отражения
    380 – 760 нм
    пропускания (оптической плотности) 350 – 900 нм
    люминесценции 400 – 700 нм
  • Минимальный размер фотометрируемого участка
    1 мкм
  • Освещение
    проходящий свет (классическое по Келлеру)
    сверху - свет
    падающий через объектив
    от наклонного осветителя
  • Объективы (увеличение)
    5/0,1 ∞/-
    10/0,25Л∞/ -
    20/0,45Л ∞/0,17
    40/0,65Л ∞/0,17
    100/1,30Л МИ ∞/0,17 (ирис)
  • Количество фотометрических диафрагм
    6 шт.
Оформить заявку
Made on
Tilda