Jeol «JEM-2200FSCS», Япония
Обеспечивает работу в режимах высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии (ВРЭМ), сканирующей просвечивающей микроскопии (СПМ), получение дифракционных картин, включая дифракцию в сходящихся пучках, проведение спектрального анализа и картирования.